englishdeutsch

Kontakt

greateyes GmbH
Rudower Chaussee 29
12489 Berlin

Tel.:
+49 (0)30 6392 6237
Fax:
+49 (0)30 6392 6238
E-Mail:
info    greateyes.de

Inspektion von Wafern, Solarzellen und Solarmodulen

Solarzellen und Solarmodule weisen eine Reihe von unsichtbaren Defekten auf, welche die Ausgangsleistung und die Langzeitstabilität vermindern.
Die hochempfindlichen Inspektionssysteme von greateyes machen diese Defekte sichtbar. Dadurch läßt sich die Produktion effizienter gestalten, die Ausgangsleistung erhöhen und die Gesamtkosten der Herstellung reduzieren.
 
Elektrolumineszenz
Durch die elektrischen Kontakte wird der Solarzelle oder dem Solarmodul Strom zugefügt. Die Solarzelle oder -modul emittiert unsichtbare Elektrolumineszenzstrahlung, welche von einer hochsensiblen Kamera detektiert wird.
Photolumineszenz
Die Solarzelle oder der Wafer wird von einer intensiven Lichtquelle angeregt. Keine elektrischen Verbindungen sind notwendig. Die Solarzelle oder der Wafer emittiert unsichtbare Photolumineszenzstrahlung, welche von einer hochsensiblen Kamera detektiert wird


Vorteile der  Elektrolumineszenz (EL) und Photolumineszenz (PL) Inspektion

  • EL und PL sind zerstörungsfreie Methoden
  • Messungen liefern detaillierte Informationen über die Größe der Defekte und ihre Lage
  • EL und PL bieten einen hohen Informationgehalt, viele Typen von Defekten können klar identifiziert werden
  • Schnnelle Messung auf der zweiten Zeitachse
  • EL kann genutzt werden, um sowohl kleine Zellen als auch große Flächen aus mono-Si, poly-Si, a-Si, micro-Si, CIGS, CIS, CdTe zu untersuchen
  • Methode kann in den Produktionsprozess integriert werden (in-line)
  • EL und PL sind auch für Forschung und Entwicklung von neuen Photovoltikgeräten sehr gut geeignet 


Unterschiede zwischen Elektrolumineszenz (EL) und Photolumineszenz (PL) Inspektion 

 
  Electrolumineszenz Photolumineszenz
Anforderungen Elektrische Konakte sind notwendig Keine elektrischen Kontakte notwendig
Substrate Solarzellen, Strings, Module Wafer, Solarzellen, as-cut Wafer
Materialien mono-Si, poly-Si, a-Si, micro-Si, CIGS, CIS, CdTe mono-Si, poly-Si, a-Si, micro-Si, CIGS
Belichtungszeiten 0.2 - 1 sec für mono-Si, poly-Si 0.2 - 2 sec für mono-Si, poly-Si
Informationswert Micro-cracks, Shunts, Fingerdefekte, Depositionsprobleme Kantendefekte  ... Micro-cracks, Inhomogenitäten, Verunreinigungen, Dislokationen


Ausgewählte Referenzen:

Dr. M. Regehly, R. Kemmler. LED-Based Photoluminescence Inspection of Crystalline Silicone As-Cut Wafers.
Poster at the EU PVSEC 2015, Hamburg


C. Peike, S. Hoffmann, M. Heck, T. Kaltenbach, K.-A. Weiß, M. Köhl,
Nondestructive Determination of Climate-Specific Degradation Patterns for Photovoltaic-Module Encapsulation, Energy Technology, 2014, Volume 2, Issue 1, pages 121–129


C. Peike,S. Hoffmann,, P. Hülsmann, B. Thaidigsmann, K.A. Weiβ, M. Koehl, P. Bentz, Origin of damp-heat induced cell degradation, Solar Energy Materials and Solar Cells, 2013, Volume 116, Pages 49–54

A. Mansouri, M. Zettl, O. Mayer, M. Lynass, M. Bucher, O. Stern, C. Heller, E. Mueggenburg, Defect detection in photovoltaic modules using electroluminescence imaging, 27th EU PVSEC, 2012

M. Regehly, J. Penlington, Im Einsatz für mehr Strom
Elektrolumineszenz-Inspektion von Solarzellen und -modulen, Inspect-Online, 3/2012